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介质损耗测试仪_TP_BC2690B_技术参数
发布日期:[2026-03-10] 共阅[24]次

扬州拓普电气科技有限公司提供的介质损耗测试仪_TP_BC2690B_技术参数

智能化抗干扰介质损耗测试仪是一种专业的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)测量。仪器具有操作简单、无需数据换算、中文菜单显示、并自带打印功能、抗干扰能力强、测试速度快等特点。

工作原理
    仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路:
1、标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并由之算出被测试品电容容值(CX)和其介质损耗(tgδ)。
2、数据采集电路全部采用高压稳定器件,采集板和采集计算机被铁盒浮空屏蔽,仪器外壳地屏蔽;另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,使测量结果稳定、精确、可靠。 

技术指标
1、环境温度:0~40℃       
2、相对湿度:30% ~70% 
3、供电电源:电压:220V±10%、频率:50±1Hz 
4、输出功率:0.6KVA 
5、显示分辩率:3位、4位(内部全是6位) 
6、测量范围及输出电压选择:
    介质损耗(tgδ):±0.00~±999% 
    试品电容容量(Cx)和加载电压: 
    2.5KV档:≤300nF(300000pF)      3KV档:≤200nF(200000pF) 
    5KV档:≤76nF(76000pF)          7.5KV档:≤34nF(34000pF) 
    10KV档:≤20nF(20000pF) 
7、基本测量误差:
    介质损耗(tgδ):1%±7个字(加载电流20uA~500mA) 
    介质损耗(tgδ):2%±9个字(加载电流5uA~20uA) 
    电容容量(Cx):1.5%±1.5pF

信息整理:扬州拓普电气科技有限公司

TPJSC-A智能化抗干扰介质损耗测试仪.jpg






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